CCS双轴相位偏移光源 让浅凹痕无处遁形

在工业检测中，浅凹痕表面检测对精度和可靠性要求极高，工业光源在此过程中扮演着关键角色，工业光源通过精准的光学设计（角度、波长、强度）将肉眼不可见的浅凹痕转化为可量化的光学信号，是实现高精度自动化检测不可替代的核心部件。

CCS的双轴相位偏移光源可有效观察难以可视化的浅凹痕及凹陷，可切换纵横条纹图案高速亮灯。该光源是定制产品，还可进行同轴型的特殊定制。

特点

• 可通过向被测物体投影纵横条纹图案，在改变相位的同时进行成像，然后通过图像处理来去除被测物体表面的图案，从而获得仅强调凹凸部分的图像。

• 可有效观察有光泽的金属零件、凹凸不平的树脂零件损伤。

• 可通过镜面反射、同轴、透射构成进行成像。

• 可定制发光面尺寸及形状、条纹图案的宽度及数量等。

• 还可适用于面阵相机、线阵相机。

成像实例

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