C# 基于halcon的视觉工作流-章46-不匀面划痕

C# 基于halcon的视觉工作流-章46-不匀面划痕

本章目标：
一、检测不匀面划痕缺陷；

参考https://blog.csdn.net/weixin_45488182/article/details/131810453
由于参考文章的内容已详尽，本章仅是对内容进行提取封装，所以不再进行额外描述

上述内容需要一定的技术功底，本章至此已结束，欢迎阅读下章。
另外，2026年预计推出opencv系列文章，目前研发进行中，敬请关注！