T拓扑结构的特性

在DDR的拓扑结构中，经常会用到T型拓扑结构，下面使用ADS仿真来研究一下T型拓扑结构的特性，仿真原理图如下：

该电路图仿真结果如下：

下面分析一下这个波形，根据计算可得分叉点的反射系数为-1/3，传播系数为2/3

        信号在中心点经过反射变成两个2/3信号向分支传输，然后两个2/3信号传播到末端因为末端反射系数为1，将返回两个2/3的信号回到中心点，每个信号经过中心点后都会反射回一个-2/9的信号和一个4/9的信号向两外两个方向继续传输，那么两个分支端都会有一个由自身反射产生的-2/9的信号的另一个分支末端产生的4/9的反射信号，两个信号进行叠加后形成一个2/9的信号继续传向末端。那么以此类推第二轮反射后两个末端分支会有一个2/27的信号传向分支末端，所以信号才会产生一个爬坡。

下面将波形进行并联端接，分别将中心点下拉到地、上拉到VDD/2、上拉到VDD观察波形情况：

仿真结果如图所示：

可看得出并联端接并不会出现向串联端接一样的波形爬升的现象，但是电平会有毛刺，毛刺是因为在中心点的负反射造成。并且端接到不同电平，信号只会上下平移。

若在末端加上Die电容，仿真波形如下：

若加上各种板材损耗等波形如下，该波形更接近真实波形：