浪涌测试主要用于评估电子设备或元器件在遭受短时高强度电压 / 电流冲击（浪涌）时的耐受能力
浪涌测试
在电路测试中，浪涌测试（Surge Test）主要用于评估电子设备或元器件在遭受短时高强度电压 / 电流冲击（浪涌）时的耐受能力，模拟实际应用中可能遇到的电网干扰、雷击感应、开关操作等瞬态过压 / 过流场景。以稳压源为例。
结合 ADP7142 线性稳压器的特性，其相关电路的浪涌测试可从以下角度分析：
一、浪涌测试的核心目标
- 验证器件生存能力：确保在浪涌冲击下，ADP7142 及周边电路不发生永久性损坏（如击穿、烧毁）。
- 评估性能稳定性：浪涌过后，电路是否仍能正常工作（输出电压稳定、噪声 / 精度等参数符合规格）。
- 验证保护机制有效性：若电路设计了浪涌防护措施（如 TVS 管、保险丝等），需测试其是否能有效吸收浪涌能量，保护 ADP7142。
- 二、与 ADP7142 相关的浪涌场景及测试关注点
1. 输入侧浪涌（针对 VIN 引脚）
- 来源：输入电源线上的瞬态过压（如电网波动、雷击感应），可能超出 ADP7142 的正常工作电压范围（2.7 V~40 V）。
- 器件固有耐受能力：
- 绝对最大额定值中，VIN 到 GND 的耐压为 - 0.3 V~+44 V（文档 Table 3），说明其输入引脚可短期承受略高于 40 V 的电压，但未明确浪涌脉冲下的耐受值（如 1.2/50μs 或 8/20μs 脉冲波形）。
- 若浪涌电压超过 44 V，可能导致内部 PMOS 管或输入保护电路损坏。
- 测试重点：
- 施加符合标准（如 IEC 61000-4-5）的浪涌电压（如 ±2 kV、±4 kV），观察 ADP7142 是否损坏，浪涌后输入 / 输出是否恢复正常。
- 若电路设计了输入浪涌防护（如串联限流电阻、并联 TVS 管），需测试防护元件是否能将浪涌电压钳位至 44 V 以内。