C6.3:发射结交流电阻
当一个小交流电压加在发射结上,会产生发射极交流电流,该交流电流的大小取决于Q点位置,而曲线是弯曲的,所以Q点在曲线上的位置越高,发射极交流电流的峰值越大。
发射极总电流是直流分量和交流分量叠加而成,即IE = IEQ + ie
IEQ为发射极直流电流,ie为发射极交流电流,而上图发射极的总电压包括直流分量和交流分量,为VBE = VBEQ + vbe
VBEQ为发射结上的直流电压,vbe为发射结上的交流电压,上图VBE上的正弦变化在IE上产生正弦变化,ie的峰值取决Q点位置,对于曲线的弯曲,同样的vbe下,Q点在曲线的位置越高,ie越大,即发射结的交流电阻随发射极直流电流的增加而降低。
发射结交流电阻的定义为:r′e = vbe / ie
表示发射结交流电阻等于发射结上交流电压除以发射极交流电流,r′e上的′表示该电阻在晶体管内部,由于vbe基本保持不变(即交流电压的幅度基本是不变的),所以发射结交流电阻总是随着发射极直流电流的增加而降低(Q点移动)。
并且由于固态物理学和微积分的知识,可以推导出发射结交流电阻的重要公式,即
r′e=25mV / IE
即发射结交流电阻的估算,该公式适用所有类型晶体管,使用条件是假设满足小信号、室温、矩形突变发射结条件,由于商用晶体管一般具有渐变的非矩形结,实际情况会与上述公式有些区别,但是几乎所有商用晶体管的发射结交流电阻都在25mV / IE 和50mV / IE之间。
所以r′e很重要,它决定着电压增益,r′e值越小,电压增益越高。
1.r′e=25mV / IE该公式的物理意义是什么?
答:该公式仅依赖载流子热运动和电流连续性原理,与半导体材料(Si、Ge等)无关,故适用于所有BJT晶体管,在半导体物理中,热电压 VT=qkT是核心参数(k为玻尔兹曼常数,T为绝对温度,q为电子电荷),在室温(25°C)下,T=298K,计算得 VT≈25.85mV,近似为 25 mV。
热电压反映了载流子(电子或空穴)因热能导致的随机运动强度,决定了PN结的导电特性。
分子25 mV:源于载流子热运动能力(热电压),室温下近似为常数,若温度变化,热电压 VT随之改变(如0°C时 VT≈22mV,50°C时 ≈28mV)。
分母 IE:反映静态工作点对载流子浓度的调制作用,电流越大,载流子响应电压变化的能力越强,电阻越小。
2.为什么r′e很重要,决定了电压增益?
答:根本原因在于它直接反映了发射结载流子浓度梯度对小信号电压的响应能力,进而控制集电极电流的变化幅度,发射结本质是基区与发射区之间的载流子注入通道。当基极-发射极电压VBE变化时,势垒高度改变,导致注入基区的少数载流子浓度梯度变化。
r′e的物理意义是:单位电压变化能引起多少载流子浓度梯度的改变。
(1).高r′e(如IE小):载流子浓度梯度平缓,相同电压变化只能驱动少量载流子穿过基区,相当于“闸门阻力大”。
(2).低r′e(如IE大):载流子浓度梯度陡峭,微小电压变化即可引发大量载流子注入,相当于“闸门阻力小”
而集电极电流IC由基区到达集电结的载流子数量决定,由于基区宽度极薄,载流子扩散是主导机制,r′e越小,载流子对VBE变化的响应越灵敏,相同ΔVBE能产生更大的ΔIC,而电压增益Av正比于ΔIC在负载电阻上的压降(ΔIC·RL),因此r′e直接控制增益的“放大倍数源头”。
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