MCU 温度采样理论（-ADC Temperature sensor）

  温度传感器可以使用ADC来测量芯片温度。
  为了准确测量运行时的芯片温度，请使用在生产过程中运行的参考测量值，此参考值与其他校准数据一起存放在SFlash中。

一、温度测量流程

1、ADC校准：关于偏移和增益调整的实例，见9.3。
2、检查CREFH和VREL：参见8.2。
3、设置参考缓冲区模式：设置PASS_CTL寄存器以启用参考缓冲区模式。
4、设置温度传感器寄存器：仅针对CYT2B，将PASS_TEST_CTL寄存器的bit9、bit8、bit6设置为“1”。
5、使用ADC读取带隙参考（VBG）：存储VBG的A/D转换结果。
6、使用ADC读取温度传感器输出（VBE）：读取VBE的A/D转换结果。要找到温度传感器的合适样本时间。
7、计算芯片内部温度：
a、VBE（温度传感器输出）与温度（T）有二阶依赖关系，可用以下公式描述：VBE = aT2 + bT + c。

• 方程系数a b c可以使用SFlash中存储的数据（）