ICT 数字测试原理 5 - -VCL 简介

ICT 数字测试原理 5 - -VCL 简介

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VCL 简介

矢量控制语言 (Vector Control Language ) 是一种易于使用、结构良好且功能多样的语言，旨在简化测试开发者的工作。VCL 测试可以编写为在线测试单个设备或测试一组设备；后者也称为节点库测试。

在您继续阅读本章之前，我们建议您查看本章末尾的示例。这将使您对语句及 VCL 测试的结构有一些熟悉。

VCL 测试将一系列向量应用于被测设备，并将设备的实际响应与预期响应进行比较。根据响应，测试将结果返回给testplan，然后testplan声明设备通过或未通过该测试。

VCL 测试的目标是：

• 通过列出测试所需的输入、输出和电压水平来描述被测设备。
• 描述发送到设备和从设备接收信号的时序要求。
• 定义驱动设备的向量以及预期设备响应的比特模式。
• 提供一系列向量执行语句，以所需顺序应用测试向量。

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编写和编辑 VCL 测试

要编写和编辑 VCL 测试，请按照以下步骤进行：

1. 开启 VCL 语法检查。

您可以在 BT-Basic 窗口中通过以下方法之一启用 VCL 语法检查：

a. 简单地将已经保存的 VCL 测试加载到 BT-Basic 工作区中。

b. 如果文件以前没有保存为“数字”文件，则可以在加载时强制进行语法检查，如以下 BT-Basic 命令行中的命令所示：

load digital "my_lib/74wb99"
re-save

load digital 命令将在 BT-Basic 中启用数字模式，并强制对指定文件中的所有行进行完整的数字语法检查。re-save 命令将以数字格式重新保存已加载的文件。

c. 在 BT-Basic 命令行中输入 digital 命令。这将把 BT-Basic 模式设置为“数字”模式。

2. 编写测试。

a. 执行 digital 语句选择数字 (VCL) 模式。

b. 如果您正在编写库测试，请参见库测试的要求以获取更多信息。

c. 如果您正在编写可执行测试，请参见可执行测试的要求。

3. 编辑现有测试。

使用 get 或 load 命令获取包含 VCL 源代码的文件。

该模式会自动从文件中读取，并将工作区设置为数字模式。

4. 保存源代码。

如果测试是针对电路板上的设备，则它是个可执行测试，必须保存在电路板测试目录下的文件中。

a. 使用 msi 语句更改到电路板目录。

b. 使用 save 语句保存源代码。例如：

save "digital/u32"
save "my_lib/74wb99"

如果文件已存在，则必须使用 re-save（重新存储）命令来保存文件。

5. 编译测试。

VCL 源代码必须编译以生成目标代码。

a. 使用 compile 语句。例如：

compile "digital/u32"

b. 如果要将测试保存在库中，请使用库选项进行编译。例如：

compile "my_lib/74wb99"; library

编译器创建对象文件。编译器将对象文件放置在与源文件相同的目录下。它将每个对象文件命名为与源文件相同的名称，但使用 .o 扩展名。如果指定了列表选项，编译器会生成一个包含源文件列表及任何编译器消息的文件。该列表文件的名称与源文件相同，但扩展名为 .l。

对于库测试，仅生成 <test name>.o 文件；列表 (.l) 文件是可选的。

对于可执行测试，可能会生成多个文件。它们被放置在在线设备测试的 digital 目录下。文件描述如表 2-1 所示。

6. 退出数字模式。

执行 basic 语句或选择其他模式。

表 2-1

VCL 测试文件

文件	描述
<test name>.o	包含系统软件运行测试所需信息的对象文件。
<test name>.r	临时对象文件，包含关于引脚分配所需系统资源的信息。当生成 .o 文件时，该文件被解除链接。
<test name>.l	可选列表文件，包含测试清单和编译器生成的消息。如果指定了编译器的列表参数，则会生成此文件。
<test name>.d	可选文件，按执行顺序与测试中定义的顺序关联向量。此文件仅供调试软件使用。要获取此文件，请指定编译器的调试选项或在 VCL 测试中使用 generate debug 语句。（包含此文件将导致生产运行时间更长。为防止运行时间延长，在发布到生产之前，重新编译时不使用调试选项。）

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关于VCL的一般规则

• 除了使用数据捕获功能外，VCL语句不能引用变量；任何数字或字符串参数必须是常量。
• 如果参数需要整数，则您必须提供整数；VCL不能对非整数值进行四舍五入。
• VCL测试每行只能有一个语句。

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库测试和可执行测试

根据测试的目的，VCL测试可以放置在库中或被测电路板的测试程序文件中。最初，VCL测试必须放在库中，以便数字程序生成器可以在为PC板生成测试时读取它们。生成器从库测试中创建可执行测试。

大多数库中的电路内设备测试是针脚导向的测试，旨在测试设备类型。库测试最初假设设备连接在所有针脚自由的配置中，但大多数库测试也包含额外的矢量集，使设备能够以其他常见配置进行测试：例如，在PC板上设备的两个输入引脚绑在一起是很常见的，复位引脚通常连接到地。由于有额外的矢量集，数字程序生成器可以通过丢弃不需要的矢量集，调整可执行测试以适应板上的设备。

实际上，矢量并没有被丢弃——执行这些矢量的语句被转换为注释。如果需要，您可以恢复其中任何一个语句。

节点库测试也是数字程序生成器用来创建可执行测试的模板。然而，节点库测试更可能是面向节点的测试，为板上的某个特定电路编写，而不是作为通用测试。当然，如果您确实有一个用于多个板的电路，那么可以编写一个针脚导向的节点库测试并重复使用该测试，就像重复使用电路内设备测试一样。

可执行测试的源文件是ASCII文件，您可以在数字模式下编辑，并重新编译。您可以对这些测试做出任何更改。然而，如果您所做的更改需要对板的拓扑进行更改或修正，那么您必须将该测试保存为库测试并编译。然后重新运行程序生成软件。在您对板数据做出必要的更改后，软件会自动重新生成新的可执行测试，并重新分配固定器引脚以适应这些更改。

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库测试的要求

以下是在库测试中需要注意的特殊事项。

• assign to 语句必须使用引脚或节点格式来分配引脚到组中；不能使用设备 <设计符> 和继电器格式。
• 不能使用默认设备语句。
• 需要 family 和 power 语句。
• combinatorial、sequential、flash、flash isp、pld isp、andtree、nandtree、nortree、xnortree 和 xortree 语句是可选的——默认是 sequential。
• outputs limited to 语句是可选的。该语句为 SAFEGUARD 安全分析程序提供更精确的信息，这可能允许放宽特定测试的限制条件。
• nondigital 语句是可选的。该语句允许指定所有设备引脚，以便在编译电路板数据时，编译器不会生成不必要的警告信息。
• 如果设备可以预处理，必须包括 disable with 和 condition with 语句，以便数字程序生成器可以安排在测试其他设备时禁用或处理该设备。如果设备需要多向量预处理，将一个 unit disable method 添加到测试中。
• 不能使用标识符 Disablegroup 和 Disablevector，因为数字程序生成器使用它们来禁用其他设备。
• 可以在矢量执行部分的单元中使用 tied 语句，以表明通常未连接的引脚被假定为在该单元中相互连接。这使得可执行测试能够测试非标准配置。
• 组合库测试不应包含归位循环。
• 仅设置的测试只需测试的声明部分。

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可执行测试的要求

以下是在可执行测试中需要注意的特殊事项。通常，你不会编写完整的可执行测试，但有时可能需要编辑其中一个。

• assign to 语句可以使用任何类型的引脚标识。如果使用 pins <引脚列表> 格式，则必须在 assign to 或默认设备语句中指定设备设计符。

• 以下语句不适用于可执行测试：

  combinatorial when
  condition with andtree
  disable with nandtree
  outputs limited to nortree
  sequential xnortree
  trace to xortree

• 如果使用 tied 语句，编译时会检查引用的矢量，以确保其不会尝试将连接的引脚设置为不同的状态。

• 如果在测试该部分时需要禁用或调整其他部分的状态，那么禁用或调整其他部分状态的引脚应被分配到一个带有标识符 Disablegroup 的组，并为这些引脚提供正确的默认设置。当测试被编译时，禁用向量 DisableVector 会自动生成。Disablegroup 不能出现在测试的矢量定义部分。

• 当编译一个可执行测试时，如果它不包含矢量定义或矢量执行部分，会生成警告且不产生对象。这防止你尝试用仅设置的测试来测试设备。然而，系统资源仍会为此测试分配。