【AOI基板外观缺陷检测软件】基于Halcon+C#开发的AOI基板外观缺陷检测软件，全套源码，开箱即用
一、软件核心优势：技术硬核，开箱即用
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这款 AOI 基板外观缺陷检测软件依托Halcon 机器视觉算法与C# 高效开发框架强强联合打造，全套源码交付，无需额外开发调试，到手即可接入生产线投入使用。从硬件适配到功能落地，极大缩短项目部署周期，为企业降低研发成本与时间成本，快速实现质检环节的自动化升级。
二、七大核心功能：覆盖质检全流程，精准高效
- 智能运动控制，适配多样产线
软件内置灵活的运动控制模块，可精准对接各类传动设备，实现基板传输、定位的自动化控制。无论是高速流水线还是间歇式生产场景，均能保持稳定的运行节奏，确保检测过程与产线节拍无缝衔接，提升整体生产效率。 - 双模式检测，满足多元需求
支持自动检测与离线检测双重模式：自动模式下，可实时对接产线相机采集图像，即时完成缺陷检测与结果反馈；离线模式则可导入历史图像数据进行回溯分析，便于工艺优化、员工培训及质量问题溯源，兼顾生产与管理需求。 - 自动对位技术，消除检测偏差
搭载先进的图像对位算法，可自动识别基板基准特征，快速完成图像配准与位置校正。即使面对基板轻微偏移、旋转等情况，也能精准锁定检测区域，有效避免因定位不准导致的漏检、误检，检测精度可达微米级。 - 双面结果智能合并，简化工单管理
创新实现 AB 面检测结果自动关联，以 A 面检测坐标为基准进行数据校准与合并，自动生成包含双面缺陷信息的统一工单。无需人工二次核对，大幅减少数据处理误差，提升工单生成效率与准确性。 - 人工复判灵活标注，优化检测结果
针对检测出的 NG cell，提供多颗批量标注与单颗精准标注两种复判模式。操作人员可根据缺陷实际情况快速标记，系统自动记录复判结果并更新检测数据，形成 “自动检测 + 人工复核” 的双重保障体系。 - 结果整合 PDF 输出，便于存档追溯
软件自动整合检测过程中的关键数据，包括基板序列号、检测时间、缺陷类型、位置坐标、复判结果等，生成标准化 PDF 报告。报告格式清晰规范，支持一键导出与打印，为质量审核、客户溯源提供可靠的书面依据。 - 序列号快速匹配，档案即时载入
通过输入基板唯一序列号，系统可自动检索并载入对应的历史检测档案、工艺参数及缺陷记录。无需手动翻阅查找，实现检测信息的快速调取，助力操作人员高效开展复检、分析等后续工作。
三、适用场景：覆盖多领域基板质检需求
广泛适用于 PCB 电路板、FPC 柔性基板、半导体晶圆、液晶显示面板等各类电子基板的外观缺陷检测，可精准识别划痕、污渍、缺角、线路断裂、焊盘偏移等多种常见缺陷，满足消费电子、汽车电子、半导体等行业的严格质检标准。
四、选择理由：技术可靠，性价比出众
基于成熟的 Halcon 视觉库与 C# 开发技术，软件运行稳定、检测精度高；全套源码交付赋予企业二次开发的灵活性，可根据特定需求定制功能；开箱即用的特性大幅降低部署门槛，无论是中小型企业的产线升级，还是大型企业的批量质检需求，均能完美适配。
五、运行界面：
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