单发测量突破能域限制!Nature发布X射线拉曼超分辨新范式
前沿速递
国际顶尖期刊《nature》今日发布一项里程碑研究:由美国芝加哥大学、德国马普研究所、欧洲XFEL等13国机构联合团队,利用X射线自由电子激光(XFEL)首次实现超分辨受激X射线拉曼光谱(sSXRS),成功以0.1电子伏特能量分辨率、40阿秒时间精度,“定格”了氖原子价电子的量子跃迁过程。论文通讯作者为Kai Li、Thomas Pfeifer与Linda Young教授。
DOI:https://doi.org/10.1038/s41586-025-09214-5
灵感源于诺贝尔奖
团队借鉴2014年诺贝尔化学奖的超分辨荧光显微镜原理,将“突破衍射极限”的思路迁移到光谱领域。正如第一作者Kai Li比喻:“就像用模糊相机拍多张照片,通过算法合成超清图像——只不过我们拍的是电子能级。”
核心突破
1. 噪声变宝藏
传统光谱仪分辨率受限于仪器精度(约0.2eV),而XFEL脉冲本身具有随机“尖峰”噪声。团队创新性开发协方差超分辨算法,将18,000次单脉冲测量的噪声波动转化为有效信号,突破物理极限实现0.1eV分辨率——相当于在足球场上识别一粒芝麻的精度。
2. 量子世界的“高速摄影”
实验捕捉到氖原子中两个能量差仅0.31eV的电子激发态(2p⁻¹3p⁻¹⁵S₀和²D₂),并首次观察到受激拉曼散射(XRS)与离子激光(XRL)的实时竞争效应(图3)。这相当于用X射线给原子核外的电子运动拍了“慢动作”。
3. 效率提升10万倍
受激拉曼信号强度比自发拉曼高出5个数量级,30分钟内即可完成传统方法需数月的数据采集,为研究瞬态化学反应开辟新途径。
结语
正如诺奖得主Mukamel教授所评:“这项工作让‘看见化学键诞生’成为可能。”当人类迈入阿秒观测时代,我们离终极梦想——导演化学反应——还有多远?
图1:s-SXRS实验原理与概念图
s-SXRS实验布局与概念。
a 一束SASE(自放大自发辐射)X射线自由电子激光(XFEL)光束被聚焦到一个充满氖气的4.5毫米气体腔室上。入射X射线强度由气体衰减器控制,透射的X射线光束则通过厚度分别为3.5微米、5微米和10微米的铝滤光片进行衰减。在通过将光束色散到二维探测器上来测量光谱之前,一个狭缝限制了透射X射线光束的尺寸。
b 受激X射线拉曼跃迁的能级示意图。入射的SASEX射线(蓝色)产生核心激发态(1s⁻¹3p,1s⁻¹4p),这些激发态通过发射拉曼光子跃迁到末态(2p⁻¹3p,2p⁻¹4p)。SASE 脉冲中的每个光谱尖峰都会引入一个相应的拉曼跃迁。对收集的单次脉冲拉曼散射光谱(ω₂)与透射的入射光谱(ω₁)进行协方差分析,会生成色散线,这些色散线指示了通过不同通道的拉曼跃迁所具有的恒定能量损失。
图2:受激辐射的能量放大效应
受激辐射脉冲能量(XRL+XRS)对入射SASE脉冲能量的依赖性。
通过气体衰减器(GATT)改变入射SASE(自放大自发辐射)强度,产生25%、50%、70%、80%和100%的透射率。每个透射率值下1000次脉冲的结果(蓝点)存在波动,这是由于单次SASE脉冲能谱的随机性所致——如Fig.1b所示,当SASE尖峰与某个跃迁能量匹配时才会发生SXRS增益。最低峰值强度的SASE脉冲产生的发射光谱信号微弱,几乎难以从探测器噪声中分辨出来,这为区分XRL和XRS设定了极限。前10%脉冲的平均发射脉冲能量(红线)在饱和前呈指数增长。受激辐射包含两个分量:XRL(品红色)和XRS(绿色)。插图显示了通过对最高强度数据的单次脉冲进行平均得到的XRL和XRS产额分解。使用带宽为7.5eV的0.25飞秒高斯脉冲(黑线)进行的孤立阿秒脉冲传输模拟结果(作为峰值强度的函数),与实验观测到的SASE脉冲增益(红线)趋势一致。
图3:实验与模拟的s-SXRS相关谱图
实验与模拟的s-SXRS。a 在1bar、1.5bar和2bar气体压力下的实验s-SXRS(受激X射线拉曼光谱)图谱。在1bar气体压力下共振时(867.5eV),图谱显示出3p和4p拉曼信号以及XRL(X射线激光)。在1.5bar压力下,s-SXRS信号沿着恒定能量损失线延伸得更远。1s→3p跃迁在867.5eV处的强共振吸收导致几乎没有透射信号,进而在偏协方差归一化后产生了一个水平的背景特征。在2bar压力下且入射X射线光子能量略高于共振能量(870eV)时,来自里德堡态(4p,5p,6p)的拉曼跃迁被突出显示。b s-SXRS模拟(包含七个能态),包括1s⁻¹3p和1s⁻¹4p核心激发的里德堡态及其对应的价激发多重态,模拟条件对应于a中的实验条件。
图4:突破极限的超分辨s-SXRS
超分辨s-SXRS(受激软X射线拉曼光谱)。a 单次随机采集的透射入射光(左侧)和散射拉曼光(底部)光谱(红点),以及通过寻峰代码选出的峰位(黑点)。超分辨s-SXRS图谱(1bar,中心能量867.5eV)可与图3a(左侧)所示的光谱进行比较。超分辨s-SXRS图谱降低了背景干扰,并将分辨率提高到约0.1eV,从而清晰地揭示了2p⁻¹3p¹S₀和¹D₂的色散线。b 在能量损失轴上绘制的s-SXRS光谱。上图:实验s-SXRS(1bar,867.5eV),包含直接测量的s-SXRS(红色虚线)和超分辨s-SXRS(红色实线)。下图:模拟s-SXRS,包含理想光谱仪分辨率下的模拟结果(蓝色实线)及与实验0.18eV光谱仪分辨率卷积后的结果(蓝色虚线)。超分辨s-SXRS消除了仪器展宽,并复现了理想光谱仪分辨率下的模拟s-SXRS结果。c 涉及自发和受激拉曼跃迁的能态。自发拉曼跃迁(黑色虚线)可到达所有多重态组分,而使用线偏振X射线产生的受激拉曼跃迁(红色实线)仅选择性地到达¹S₀和¹D₂态。
Extended Data Fig.1 Measured vs simulated spike distribution
Extended Data Fig.2 Measured vs simulated spectral spike intensity fluctuation
Extended Data Fig.3 Detector Cailbration
Extended Data Fig.4 Experimental Setup
Extended Data Fig.5 Spectrometer resolution
Extended Data Fig.6 Pixel-limited super-resolution
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