CFCF2025光连接大会邀请函：昊衡科技诚邀您莅临光纤通信行业盛会，共话未来
CFCF 2025
大会介绍
由光纤在线与和弦产业研究中心联合主办的CFCF2025光连接大会将于2025年6月16日至18日在苏州湾艾美大酒店盛大举行。这场备受瞩目的大会将汇聚光通信领域专家、学者以及企业代表，共同探讨下一代算力需求下的光通信技术发展趋势，推动行业技术升级和市场增长。
作为国内首家实现OFDR技术商用化的企业，武汉昊衡科技有限公司将携OCI系列高分辨光学链路诊断仪、OCI-V光矢量分析仪、OLI 低成本光学链路诊断仪与解决方案精彩亮相，展位号为#C9，诚邀新老朋友莅临参观交流。
参展信息：
展商名称：武汉昊衡科技有限公司
展会名称：CFCF2025 第十届光连接大会
展会时间：2025年6月16-18日
展会地点：苏州·苏州湾艾美大酒店
展位号：#C9
CFCF 2025
展品介绍
OCI 高分辨光学链路诊断仪
最高空间分辨率10um
光器件、光模块测量
硅光芯片测量
OCI基于光频域反射（OFDR）技术，单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断，可轻松查找并判别光纤链路中的宏弯、连接点和断点，并精确测量回损、插损、光谱、延迟等参数，其事件点定位精度高达0.1mm。OCI不仅可用于光学链路诊断，还可拓展分布式光纤传感功能，实现应变和温度的高分辨测量。
OCI-V 光矢量分析系统
参数：PDL、PMD、GD、CD、IL
平面波导器件、硅光器件测量
1s测量多种光学参数
OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损、偏振模色散、偏振相关损耗、群延时等光学参数。
OLI 低成本光学链路诊断仪
OLI基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测，可轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。设备采样分辨率最高可达1μm，同时最低可探测到-100dB光学弱信号， 广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。
OLI-P 分布式偏振串扰测试仪
分布式测量保偏光纤环偏振串扰
高采样分辨率和定位精度
灵敏度高、测量动态范围大、测量时间短
OLI-P是基于白光干涉的分布式偏振串扰测试分析仪，采样分辨率优于2cm，噪声灵敏度最低可达-90dB。设备可高精度测量保偏光纤环、Y波导芯片等器件的分布式偏振串扰。通过偏振串扰测试，精准定位保偏光路中异常串扰点位置、分析连接头或耦合端面质量、测量保偏器件芯片的偏振消光比等。该产品可用于产品工艺设计改进或产线批量检测。
FLA 光纤链路分析仪
测量范围:500m
空间分辨率:2mm
回损重复精度:士0.5dB
插损重复精度:士0.2dB
FLA光纤链路分析仪，空间分辨率2mm，最长测量范围500m，测量动态范围70dB。可选手持式版本，具有触屏、内置高容量可充电电池等特点，可快速实现光纤长度测量、分布式回损测试、断点失效检测等。广泛用于飞机、通信网络、数据中心等场景的现场测试。
昊衡科技诚邀您前来，与您一起共赴一场光通信的盛会！
