寄存器被改写问题总结

1，场景

挂测业务过程中，发现端口会出现接口down的过程，读光模块信息发现模块信息被改写，切页寄存器和模块端口使能寄存器被改写，光模块的访问是通过gpio 模拟iic 访问的。

2，问题怀疑方向

怀疑点1；软件有人操作寄存器，检查代码，发现没人操作端口使能寄存器。
怀疑点2，gpio模拟iic访问频率过高，调整100K/400k/60k调整没效果；
怀疑点3，gpio读写误判操作；
怀疑点4，多进程访问导致线程安全出问题；

3，问题分析

（1）定位问题 

查看日志，分析眼图信号，首先查看sdk serdies的信号和phy芯片的信号，发现sdk收到的信号很差，phy测看信号一直在跳变，环回查看信号。

发现模块异常原因为未加载调制信号，触发了TX_LOS，在模块发射LOS的情况下，引起TX_Mute致使模块不发光。铭普光模块实现了Tx Squelch功能，发现芯片内部逻辑在判决调制信号时出现异常会导致此类问题。TX_SQ判断条件比较严格，因为底噪原因各通道LOS判断不一致，出现通道未触