芯片中的pad、strap和probe

在芯片设计中，pad、strap和probe是三个常用的术语。

Pad:芯片引脚的通用术语，它是芯片与外部世界进行联系的接口，用于输入输出信号、电源、地线等。Pad可以是单个引脚，也可以是引脚的组合，通常由芯片厂商进行设计和定义。

Strap:一种外部电路，用于在系统启动时配置芯片的一些参数和模式。Straps通常由电阻、电容和开关等元器件组成，可以通过连接或断开不同的电路来控制芯片的工作模式。

Probe:一种模式，可以让芯片在系统运行时对某些功能进行测试和调试。Probe模式通常通过软件或者硬件的方式使芯片进入该模式，然后可以进行一些特殊的操作，例如读取芯片内部寄存器的值、测试IO口的工作状态等。

总之，Pad、Strap和Probe是芯片设计中常用的术语，它们分别指芯片引脚、启动配置电路和调试测试模式。