如何利用ATECLOUD测试平台的芯片测试解决方案实现4644芯片的测试？

作为多通道 DC-DC 电源管理芯片的代表产品，4644 凭借 95% 以上的转换效率、±1% 的输出精度及多重保护机制，广泛应用于航天航空（卫星电源系统）、医疗设备（MRI 梯度功放）、工业控制（伺服驱动单元）等对可靠性要求严苛的领域。国内厂商在自主研发过程中，亟需建立标准化测试体系以确保产品性能一致性。

测试指标

• 输入特性：电压范围、启动浪涌电流
• 输出特性：负载调整率、线性调整率
• 动态响应：阶跃负载响应时间
• 保护功能：过压 / 过流 / 过热阈值验证
• 环境适应性：-40℃~+85℃温漂测试

测试设备

• 程控电源
• 电子负载
• 混合信号示波器
• 数字万用表
• 高低温箱

自动化测试方案

基于纳米软件ATECLOUD智能云测试平台构建的芯片测试解决方案，可实现全流程数字化管控。

测试流程设计

• 图形化编程：通过拖拽式指令模块构建芯片测试项目和方案
• 参数化配置：支持测试极限值、容差范围、判定规则的灵活设置

智能测试执行

• 并行测试：支持多通道同步测试，单颗芯片测试周期缩短至 90 秒
• 异常处理：自动识别过压等异常状态并触发安全机制
• 环境控制：集成温箱接口实现温变曲线自动控制

数据分析与报告

• 多维可视化：提供瀑布图、三维曲面图等专业分析工具
• 质量追溯：自动生成包含测试条件、原始数据、Pass/Fail 标记的追溯报告
• 统计分析：支持 CPK 计算、SPC 控制图等质量分析功能

更多电源芯片测试解决方案可查看：www.namisoft.com/solution/dyglxpcsxt.html