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在半导体行业快速发展的背景下，电源管理芯片作为电子设备的核心组件，其测试需求日益复杂。尤其是多路输出电源芯片（如单进四出、三出等）的测试，不仅需要覆盖多路输出的性能指标，还需兼顾测试成本与精度。如何在高复杂度测试中实现降本增效并提升数据准确性？

多路测试难题：高成本与空间限制的双重挑战

传统的多路输出电源芯片测试需为每路输出配置独立仪器。例如，单进四出芯片的万用表测试需5台设备同时工作，这不仅导致仪器购置成本飙升，还面临机柜空间不足的难题。对于测试量较大的企业而言，此类方式难以满足高效集成与规模化测试需求。

解决方案：继电器切换工装技术
通过继电器切换装置，仅需单台仪器即可完成多路测试。其核心原理是通过ATECLOUD系统指令控制继电器，将仪器信号动态切换至不同测试通路。例如，在四路输出测试中，系统自动切换继电器连接至对应引脚，逐路完成指标采集。此方案可减少80%的硬件投入，同时解决机柜空间限制问题，显著提升测试效率。

精度提升关键：低内阻线缆的选型与应用

在多路电源芯片的输出特性测试中，导线内阻对结果影响巨大。以输出电流限制测试为例，若线缆内阻过高，大电流工况下导线压降会导致负载异常或输出电压波动，直接影响测试准确性。因此，低内阻线缆成为高精度测试的核心保障。

案例分析：深圳某半导体公司的选型实践
以纳米软件为深圳某公司的测试选型为例：公司要求系统内部线缆内阻需低于2mΩ，设计团队对铜材质与镀银特氟龙线缆进行对比测试：

• 铜材质线缆：长度0.5m，内阻0.237mΩ

• 镀银特氟龙线缆：同规格下内阻0.734mΩ

尽管镀银线缆具有耐高温特性，但其内阻超出预期。最终选用铜材质线缆，实测阻值仅1.1mΩ，完全满足客户需求。此案例表明，线缆选型需基于实际测试数据，平衡成本与性能。

继电器切换工装与低内阻线缆的结合，需依托自动化测试系统（如ATECLOUD）实现高效协同。该系统可通过编程指令完成以下操作：

1. 动态切换控制：按预设顺序切换继电器通路，实现多路自动化测试；

2. 实时数据采集：同步记录各通路电压、电流等参数，生成标准化测试报告；

3. 异常预警机制：检测线缆内阻波动或继电器故障，保障测试稳定性。

参考资料：​​​​​​​www.namisoft.com/news/dymkcszt/72.html