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ICT 数字测试原理 7 - -VCL 测试环境

news 2025/10/6 6:11:55

ICT 数字测试原理 7 - -VCL 测试环境

文章目录

ICT 数字测试原理 7 - -VCL 测试环境
- - 建立环境
  - - 测试类型
    - 处理器（Mux 系统）
    - 测试时间
    - 调试数据
    - 在testplan和数字测试之间传递数据
    - 分配资源

建立环境

声明部分的第一部分设定了测试运行的环境。

测试类型
处理器（Mux系统）
测试时间
调试数据
在testplan和数字测试之间传递数据

测试类型

测试类型包括：组合（combinatorial）、顺序（sequential）、闪存（flash）、闪存ISP（flash isp）、PLD ISP、与树（andtree）、与非门树（nandtree）、或非门树（nortree）、异或非门树（xnortree）和异或树（xortree）。这些语句是可选的。如果未指定测试类型，默认为顺序类型。

表2-7描述了这些测试类型。

如果发生拓扑冲突，数字程序生成器可以从这种类型的测试中丢弃单个向量执行语句（参见解决拓扑冲突）。

表2-7

测试类型

类型	描述
combinatorial	指定测试用于没有记忆装置的设备。设备输出在任何时候仅依赖于当前输入。这种类型的设备通常由几个门组成。
sequential	指定测试用于有记忆装置的设备。设备输出在任何时候不仅依赖于当前输入，还依赖于之前的输入。此类型的设备包括触发器、寄存器和RAM。这种设备如果发生拓扑冲突，数字程序生成器必须从测试中丢弃执行冲突向量的任何单元。
flash	打开处理Mototola S和Intel Hex记录的闪存特定功能。此语句需要在板配置文件中启用flash70语句。
flash isp	使用Flash ISP算法打开可选的闪存特定功能。此语句需要在板配置文件中启用flash isp语句。
pld isp	使用PLD ISP产品打开可选的PLD特定功能。此语句需要在板配置文件中启用pld isp语句。
andtree	指定测试用于包含与树可测试性结构的设备，并向数字程序生成器提供完成测试的向量执行部分所需的信息。
nandtree	指定测试用于包含与非门树可测试性结构的设备，并向数字程序生成器提供完成测试的向量执行部分所需的信息。
nortree	指定测试用于包含或非门树可测试性结构的设备，并向数字程序生成器提供完成测试的向量执行部分所需的信息。
xnortree	指定测试用于包含异或非门树可测试性结构的设备，并向数字程序生成器提供完成测试的向量执行部分所需的信息。
xortree	指定测试用于包含异或树可测试性结构的设备，并向数字程序生成器提供完成测试的向量执行部分所需的信息。

处理器（Mux 系统）

处理器语句指定负责从testplan中接管测试头的向量处理器单元。当测试结束时，向量处理器将控制权返回给testplan。在库测试中必须指定处理器。对于可执行测试，如果省略处理器语句，软件会自动为目标测试系统选择正确的向量处理器。大多数系统会选择：processor vpu

20 MHz 系统选择：processor vpuplus

然而，你也可以为 20 MHz 系统指定 vpu。

测试时间

可选的测试时间语句允许你指定测试运行所需的估计时间。这个时间被用于SAFEGUARD安全分析例程的输入。测试时间在《使用VCL进行高级测试》中有描述。了解测试时间在《调试数字测试》中有所描述。

调试数据

当调试VCL测试时（详见《调试数字测试》），有时需要将向量按执行顺序的编号与VCL测试中定义顺序的向量编号进行关联。如果你正在调试的VCL测试具有一个可选的调试数据文件，就可以做到这一点。该文件命名为.d：它包含将这两组向量编号关联起来的目标代码。当一个VCL测试被编译生成一个可执行的目标文件（.o）时，如果编译器被指示生成调试数据文件，编译器也会生成该文件。

有三种方法可以指示编译器生成.d文件。

以下语句可以用于VCL测试的声明部分，确保总是为该测试生成.d文件：
```
generate debug
```
如果接下来的两种方法中的任何一种关闭了调试选项，generate debug 将覆盖它们，并为该测试重新开启调试选项。
在编译语句中使用debug选项。
更改与你的登录相关的.hp3070文件中的标准调试语句——默认设置为no（不需要调试数据）：
```
Dcomp.Debug: no  ! 对于数字测试
Mcomp.Debug: no  ! 对于混合测试
```
将no改为yes以更改默认设置，使编译语句总是生成调试数据文件。如果默认设置为yes，它将适用于每次编译VCL测试。如果默认设置为no，可以通过编译语句中的debug选项或测试中的generate debug语句为单个VCL测试覆盖默认设置。

在testplan和数字测试之间传递数据

在VCL测试中可以使用变量来捕获数据以及驱动和接收可变向量状态。数据捕获将在本章后面描述，参见数据捕获。变量向量在《模块化非易失性存储器测试工具》中有所描述。

要在VCL测试中使用的变量，必须从BT-Basictestplan传递到测试中。测试中要使用的变量名称通过执行VCL测试的测试语句从testplan传递。这些变量在被传递之前必须已经存在。例如，以下语句定义了两个数组并将这些数组与一个简单变量一起传递给U6的测试：

示例2-2

   dim U6_Stream1(1024), U6_Stream2(1024)test "U6"; digital Serial_Number, U6_Stream1(*), U6_Stream2(*)

VCL测试需要一个或多个test digital语句来接受这些参数。例如，U6的测试可能会有以下两个语句：

   test digital; Serial_Number, A(*)test digital; B(*)

test digital语句必须位于所有assign to语句之前。如例子所示，测试可以通过它们的BT-Basic名称或不同名称引用参数。无论哪种情况，testplan和VCL测试都在访问相同的变量，如示例2-3所示。

示例2-3

在这里插入图片描述

数字测试和testplan通过相同名称或不同名称访问相同的变量

由于它们都访问相同的变量，testplan和VCL测试可以在它们之间任意方向传递值。如果传递给VCL测试的变量包含值，测试可以使用这些值。同样地，如果VCL测试在变量中保存了值，这些变量在VCL测试退出后保留其新值，并且可以被testplan访问。

传递给VCL的变量必须是简单变量或单维数组。VCL中的数组始终是从零开始的，不论在BT-Basic中的元素编号如何。

分配资源

声明部分的这一部分描述了设备的拓扑结构。设备的引脚被分配到逻辑组并声明为输入、输出、双向引脚或电源引脚。数字程序生成器利用这些信息为测试分配系统资源（驱动器、接收器等）。

assign to 语句用于将引脚分配到组并命名这些组（参见前面示例中的语句）。随后可以在测试的其余部分通过组名引用这些引脚组。向量中的状态按照引脚分配到组的顺序映射到引脚上。如果测试是面向引脚的，语句参考设备引脚，如下所示：

assign Data_In to pins 1, 2, 9, 8

这将名称 Data_In 分配给一组四个引脚。如果测试是面向节点的，那么参考电路节点名称，如示例2-4所示。

示例2-4

assign Bus_Address to nodes "dtu-21", "dtu-22", "r10-1", "u1-14"

default device 语句是可选的。它可以在可执行设备测试中用于声明设备的名称。这可以避免在每个 assign to 语句中引用设备。如果有多个设备，其中一个可以在 default device 语句中引用，而其他设备在 assign to 语句中引用。也可以有多个 default device 语句，每个语句适用于其后面的 assign to 语句。

一旦引脚被分配到组，以下语句接下来声明哪个组具有哪种类型的引脚：