从数字后端角度谈谈occ电路（一）

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在现阶段随着芯片工艺越来越先进，规模越来越大，对芯片良率有了很大的挑战，因此在生产过程中CP(Chip Probe)和FT（Final Test）测试变得尤为重要，为了保证能准确检测制造良率，越来越多的项目会重视dft（design for testability），然而在dft设计时，离不开相关测试电路设计，而occ是其中最重要的电路之一，今天小编和大家一起聊聊occ电路相关内容。

谈到dft，首先得说一下在制造中经常出现的错误类型：Stuck-at Fault Model, Bridging Fault Model, Delay Fault Model;

Stuck-at Fault Model, 可根据错误分为stuck-at 0 & stuck-at 1，顾名思义就是某个信号线因为在生产中net出现短路时，导致可变的输入信号变成了一个定值0或1，导致后面输出信号产生问题，一般会采用低