【SoC设计的简单艺术】第九章：芯片级的复杂性

本章将扩展前几章介绍的一些概念，并将其应用于IP、子系统和芯片级别。

迄今为止，本书的一个核心点是开发设计复杂性的有用度量标准，然后利用这些度量标准来识别以下内容：

• 简化设计的方法，使其更有可能在功能上正确
• 工具（包括综合和验证）帮助开发和验证设计的更好机会
• 使开发更简单设计更容易的语言构造

到目前为止描述的所有技术都是对度量标准告诉我们的内容的回应。提出的关键度量标准包括：

• 代码行数
• 内部（浅层）状态空间
• 输入状态空间（我们忽略输出状态空间，因为它是其他人的输入状态空间，但这可能是一个错误）
• 结构——设计中有多少对象（因此奖励结构体和类等，惩罚随机连线）
• 模块的接口数量
• 模块连接性——给定IP的连接图有多复杂

到目前为止，这些度量标准已经应用于IP或块级设计。现在的问题是：

• 作为一个单元的IP的复杂性如何？
• 我们如何测量SoC级别的复杂性？
• 我们可以使用什么技术来最小化这种复杂