无代码测试平台ATECLOUD全场景测试方案
ATECLOUD 智能云测试平台是有纳米软件开发的一款以无代码架构与弹性扩展体系为核心的自动化测试平台，通过数据模型驱动的创新设计，为研发、产线等多场景提供高效可控的测试解决方案。
无代码架构
ATECLOUD 打破传统技术壁垒，构建完全可视化的无代码开发环境。用户无需编程，通过拖曳文字指令即可快速搭建测试流程：
零代码入门：可视化界面配合智能引导，测试人员、质量工程师甚至业务人员均可独立完成流程设计，彻底消除技术门槛。
数据模型驱动：将复杂测试逻辑转化为可配置的数据节点，实现仪器控制、数据采集、流程调度的无缝衔接，较传统代码开发效率提升70%以上。
全流程闭环管理：覆盖项目方案搭建、实时参数调整、自动化报告生成，形成端到端测试生命周期管理。
灵活可扩展
平台采用 “积木式” 设计，通过灵活调整扩展满足不同场景需求：
功能模块层：提供仪器指令库、算法维护、数据报告等标准化模块，支持测试报告一键导出，快速扩展基础功能。
系统集成层：开放API接口，实现与 MES、ERP 等企业系统的数据互通，构建分布式测试集群。
可视化管控复杂测试流程
作为平台核心，智能工作流引擎通过图形化界面实现多层级流程编排：
仪器协同：支持主流品牌型号仪器兼容，做到即插即用，可灵活添加设备连接拓扑图，实时监控状态，解决多品牌仪器联动难题。
数据处理：内置循环算法、阈值判断等 12 种数据节点，支持数据生成与智能分析，满足精密测试场景的数据处理需求。
闭环控制：通过实时反馈实现 “测试 - 分析 - 调整” 自动化循环，在产线测试中可实时优化良率，减少人工干预。
ATECLOUD 针对不同业务场景提供差异化解决方案：
- 高精度研发测试
支持皮安级电流测量、纳秒级时间同步等精密控制，内置误差补偿算法，适用于芯片可靠性测试、新能源电池 BMS 验证等场景，保障研发阶段的精准性。 - 高效率产线测试
具备多工位并行测试、节拍优化算法，自动生成数据控制报告，满足消费电子全检、汽车零部件自动化测试线等需求，提升批量测试效率。 - 智能化运维
测试数据云端存储与AI分析，支持故障诊断、仪器健康度预测，助力远程实验室管理与跨地域数据中台建设，实现测试体系智能化升级。
企业级价值：降本、提效
成本优化：无代码开发降低人力成本，设备利用率提升使总体拥有成本降低 40%-60%。
效率提升：流程搭建周期缩短 60%，自动化覆盖率达 90%，交付周期压缩 30% 以上。
质量升级：标准化流程避免人为误差，数据可追溯性 100%，缺陷发现率提升 25%。
技术沉淀：构建企业级测试资产库，将核心逻辑转化为可复用数字资产，形成组织级测试能力壁垒。