功能安全实战系列14-英飞凌TC3xx MBIST检测理论篇

0. 前言

在本系列笔者将结合工作中对功能安全实战部分的开发经验进一步介绍常用，包括Memory(Flash，Ram)失效检测，程序运行时序时间检测，及功能安全软件相关的功能安全分析，DFA分析方法等进行介绍。从本篇开始将对英飞凌Tricore系列芯片功能安全进行系统介绍，包括锁步核，SMU，MONBIST，LBIST，MBIST，时钟监控，ECC，MPU，总线监控等，如您对汽车电子底层相关Autosar全模块实战感兴趣，可参读专栏：AutoSar实战进阶系列导读

本篇将对MBIST开发介绍，步骤详细配合开发中的故障注入情况方便理解。主要框架如下：

1. Why?

MBIST（Memory Built-In Self-Test，内存内建自测试）对内存进行自检。
根据ISO 26262标准，MCU需要具备检测潜在故障的能力，以确保系统的可靠性和安全性。
MBIST作为一种硬件自检机制，能够在系统初始化阶段或运行时检测内存硬件的潜在故障，从而最高可满足ASIL D等高级别功能安全需求。