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【TMS570LC4357】之相关驱动开发学习记录2

系列文章目录

【TMS570LC4357】之工程创建
【TMS570LC4357】之工程配置修改
【TMS570LC4357】之HALCOGEN使用
【TMS570LC4357】之相关问题及解决
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前言

记录笔者在第一次使用TMS570过程中对外设驱动的一些学习碎片。

1. ADC

1.1 转换模式

没有扫描
在这里插入图片描述
最多只能group Event 和group1 在连续

1.2 Group的关系

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采样缓存满了
在这里插入图片描述
覆盖,或者忽略

1.3 Group顺序

在这里插入图片描述
不管是12位采样,还是10位,八位,bit15-11:有别的意思
在这里插入图片描述

1.4 ADC中断

在这里插入图片描述
转换结束中断
在这里插入图片描述
阈值中断,采样次数到达这个阈值触发
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1.5 溢出中断

1.6 幅值中断

在这里插入图片描述

1.7 安全和可靠性

在这里插入图片描述
ADREFHI 都需要外部电路提供标准
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1.8 ADC采样计算

在这里插入图片描述

2. DCAN

2.1 配置

在这里插入图片描述
在这里插入图片描述
但此时接收不到,是被硬件过滤了,修改初始化配置即可,如下
是否过滤远程帧bit31,扩展帧bit30,MDir 数据方向
在这里插入图片描述

2.2 使用接收中断和掩码过滤

在这里插入图片描述
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数据手册无实际IF1NO寄存器
在这里插入图片描述
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2.3 中断接收

在这里插入图片描述
只接收,设置的CANID

3. N2HET

待补充

4.GPIO

在这里插入图片描述
外部上拉电阻,需要开路输出,不然GPIO设置不成功

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