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光芯片一般性可靠性检测条目

光芯片一般性可靠性检测条目

  • 引言
  • 正文
    • 静电放电人体模型(HBM)
    • 高温高湿存储
    • 高温存储
    • 低温存储
    • 温度循环

引言

光芯片的可靠性测试一般有五种检测需要,这里我们特来记录一下。

正文

静电放电人体模型(HBM)

测试条件:

  1. MPD: [ ± 50 , ± 500 ] V \left[\pm50, \pm500\right] V
http://www.dtcms.com/a/123143.html

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