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SWD（Serial Wire Debug）和JTAG（Joint Test Action Group）是两种常用的嵌入式系统调试接口，它们在设计、功能和应用场景上有显著区别。以下是主要对比：

1. 引脚数量与硬件连接

JTAG：
至少需要 4-5根线（TMS、TCK、TDI、TDO，可选nTRST）。
支持多设备菊花链（Daisy-Chaining），通过共享信号线调试多个芯片。
接口标准为 20-pin/10-pin 连接器（如ARM Cortex的JTAG接口）。

SWD：
仅需 2根线（SWDIO-双向数据线、SWCLK-时钟线），可选额外引脚（如复位线nRST）。
专用于ARM Cortex 处理器，无法直接支持多设备链式连接。
接口通常复用 JTAG的某些引脚（如20-pin连接器中的特定引脚）。

2. 协议与速度

JTAG：
基于状态机的协议，灵活性高，但协议开销较大。
速度受限于TCK频率（通常1-50MHz）。

SWD：
串行协议，直接传输地址/数据，协议更高效。
在相同时钟频率下，实际速度通常比JTAG快20%-30%（因协议更简洁）。

3. 功能支持

JTAG：
支持调试（Debug）和边界扫描测试（Boundary Scan）（测试PCB连接性）。
通用性强，适用于多种架构（ARM、MIPS、FPGA等）。

SWD：
仅支持调试，无边界扫描功能。
专为ARM设计，需芯片原生支持（如Cortex-M/A系列）。

4. 抗干扰与布线

JTAG：
对信号完整性要求较高，长距离布线易受干扰。

SWD：
更少的信号线降低了布线复杂度，抗干扰能力更强，适合紧凑型PCB或高噪声环境。

5. 调试工具支持

JTAG：
广泛支持（如J-Link、OpenOCD、Lauterbach等）。

SWD：
主要被ARM生态工具支持（如ST-Link、J-Link），某些老旧工具可能不兼容。

6. 典型应用场景

JTAG：
需要边界扫描或多设备调试的复杂系统（如FPGA、多核MCU）。

SWD：
资源受限的ARM Cortex-M设备（如STM32、nRF52等），追求最小引脚占用。

7.如何选择？

优先SWD：ARM Cortex芯片、引脚受限、高速调试。
优先JTAG：需边界扫描、非ARM架构、多设备链式调试。
许多现代调试器（如J-Link）支持自动切换JTAG/SWD模式，可根据目标设备灵活选择。