CMOS知识点 MOS管线性区电流公式
知识点15:
首先,我们需要知道:
- MOSFET结构:主要有源极(Source)、漏极(Drain)、栅极(Gate)和衬底(Body)。
- 导通条件:当栅源电压
大于阈值电压
时,栅极下的衬底表面会形成一个连接源极和漏极的反型层(N型沟道),器件开始导通。
- 工作区域:
- 线性区 (Triode/Ohmic Region):当
(漏源电压) 较小时,沟道从源到漏完整存在。电流
同时受
和
控制。
- 饱和区 (Saturation Region):当
增大到一定程度 (
≥
−
) 时,沟道在漏端附近被“夹断”,电流
主要受
控制,对
变化不敏感。
- 线性区 (Triode/Ohmic Region):当
MOSFET在线性区的大信号特性计算
那么,PMOS晶体管线性区的电流公式为:
条件是:
即:
:导通条件。源栅电压必须大于阈值电压,这样才能在栅极下方形成反型层(P型沟道),为电流提供通路。
:线性区条件。确保沟道在漏端还没有被“夹断”。当
时,漏端的栅压差刚好等于
(
−
=
),沟道在漏端刚刚消失,晶体管处于线性区与饱和区的临界点。如果
再增大,晶体管将进入饱和区,这个公式就不再适用。
电流公式核心逻辑是:电流大小取决于有效的导通电压 ( )在电阻性的沟道上产生的压降
,并减去一个由沟道电势分布不均导致的平方项修正。
组成部分为:
:漏极电流 (Drain Current)。这是我们要计算的最终结果,表示从源极流入,从漏极流出的电流。对于PMOS,载流子是空穴,电流方向与空穴运动方向一致(源极到漏极)。
:器件的本征导电因子。这部分决定了晶体管本身的“驱动能力”或“增益”。
:跨导参数 (Transconductance Parameter)。这是一个由制造工艺决定的常数,
=μp⋅Cox′。
- μp :空穴迁移率。衡量空穴在硅材料中移动的难易程度。
- Cox′:单位面积的栅氧层电容。由氧化层厚度 tox 和介电常数 εox 决定(Cox′=εox/tox)。
- 物理意义:
综合了材料的导电能力(μp)和栅极控制沟道电荷的能力(C'ox)。
越大,同样的栅压能诱导出更多的沟道电荷,电流也就越大。
:宽长比 (Aspect Ratio)。这是由电路设计者决定的尺寸参数。
- W (Width):沟道的宽度。W 越大,相当于并联的导电通道越多,电阻越小,电流越大。
- L (Length):沟道的长度。L 越短,电荷漂移的距离越短,电阻越小,电流越大。
- 总结:
就像是一个“导电系数”,它结合了工艺水平和设计尺寸,共同定义了这个晶体管能将栅压转换为电流的最大能力。
- (
):过驱动电压 (Overdrive Voltage)。这是晶体管导通的“有效”电压。
:源极到栅极的电压。对于PMOS,要使它导通,源极电压必须高于栅极电压,所以
是正值。
:阈值电压 (Threshold Voltage)。这是形成导电沟道所需的最小
。
- 物理意义:(
)代表了超出最低要求的那部分栅压。这部分多余的电压越强,吸引到沟道中的可动空穴电荷就越多,沟道的导电性就越强。它是栅压对沟道电荷控制能力的体现。
- [(
)
]:有效电压积。这部分描述了漏源电压
如何与过驱动电压相互作用来产生电流。它可以被看作两部分:
- (
)
:线性项。如果沟道电阻是恒定不变的(像一个理想的电阻),那么电流就应该是
∝
。这里的 (
) 决定了这个“理想电阻”的阻值(过驱动电压越大,沟道电荷越多,电阻越小)。所以这一项代表了理想电阻行为。
:非线性修正项。在实际的MOSFET中,沟道电阻并非常数。沿着沟道从源极到漏极,电压 V(y)从0增加到
。这意味着靠近漏极的沟道,其栅极与沟道之间的电压差(
−V(y))变小了,因此可动电荷 Q’I也变少了,导致该处的电阻变大。
- 物理意义:这个平方项减去了由于沟道电荷分布不均匀(漏端电荷减少)而导致的电流损失。正是因为存在这个修正项,MOSFET在线性区的I-V曲线才不是一条直线,而是一条略微向下弯曲的曲线。
- (
总结:
可以把PMOS晶体管在线性区的工作想象成一个其阻值受 控制的压控可变电阻。
:决定了这个电阻的最大调节范围(
越大,最小阻值可以做得越小)。
- (
):是控制信号,它决定了电阻的设定值。
整个括号内的项:描述了在这个设定的电阻值下,电流 和电压
之间的非线性关系。当
非常小时,平方项可以忽略,公式退化为
这非常像一个阻值为 R=1/ 的线性电阻。这就是“线性区”或“欧姆区”名称的由来。