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AUTOSAR Flash Test 模块解析文档

AUTOSAR 经典平台内存硬件抽象层模块详解

目录

• 1. 概述
  • 1.1 Flash Test 模块简介
  • 1.2 模块作用和定位
• 2. 架构设计
  • 2.1 整体架构
  • 2.2 状态机设计
• 3. 执行流程
  • 3.1 后台测试序列
  • 3.2 前台测试序列
• 4. 配置结构
  • 4.1 模块配置详解
• 5. 总结

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1. 概述

1.1 Flash Test 模块简介

Flash Test 模块是 AUTOSAR 经典平台内存硬件抽象层的重要组件，提供了对不变存储器（如 Flash、程序 SRAM、锁定缓存等）的测试功能。该模块允许在 MCU 初始化后的任何时间执行测试，支持前台和后台两种工作模式，使得系统能够灵活安排测试执行时机，满足不同的安全需求。

Flash Test 驱动需要集成到整体安全概念中使用，仅依靠该模块本身无法提供所需的完整诊断覆盖。其主要特点包括：

• 提供对嵌入式或映射连接到微控制器的不变存储器测试算法
• 支持数据/程序闪存、程序 SRAM、锁定缓存等多种存储介质测试
• 可配置测试算法，以满足系统的安全要求
• 提供前台和后台两种工作模式

1.2 模块作用和定位

Flash Test 模块在 AUTOSAR 架构中位于内存硬件抽象层（MHAL），其作用是：