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该 LabVIEW 程序实现了 线性拟合（Linear Fit），用于计算给定一组数据点的斜率（Slope）和截距（Intercept），并将结果可视化于 XY Graph 中。本案例适用于数据拟合、实验数据分析、传感器标定等应用场景。程序使用矩阵运算求解最小二乘法方程，并支持误差修正。
功能说明
该程序的主要功能包括：
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输入 X-Y 数据点数组（X-input array 和 Y-input array）。
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计算线性回归方程：y=ax+by=ax+b其中 aa 为斜率（Slope），bb 为截距（Intercept）。
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最小二乘法计算：
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计算 X 和 Y 的均值。
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计算斜率 aa：a=N∑xy−∑x∑yN∑x2−(∑x)2a=N∑x2−(∑x)2N∑xy−∑x∑y
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计算截距 bb：b=∑y−a∑xNb=N∑y−a∑x
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拟合结果可视化：
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计算拟合直线上的 Y 值。
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在 XY Graph 上显示原始数据点及拟合直线。
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误差修正（可选启用）：
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计算修正后的斜率和截距（Correct Slope 和 Correct Intercept），提高拟合精度。
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LabVIEW 代码解析
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数据输入：
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通过 X-input array 和 Y-input array 传入数据点。
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最小二乘法计算：
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使用 LabVIEW 的基本数学函数（乘法、加法、数组求和）实现线性回归。
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计算均值、斜率、截距。
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结果输出：
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斜率、截距作为数值显示。
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XY 图表显示原始数据点与拟合曲线。
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错误检查：
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确保 X 和 Y 具有相同数据点个数，并至少包含两个点。
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参考资料
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LabVIEW 线性拟合（Linear Fit）官方文档：NI Documentation
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最小二乘法原理：Least Squares Method - Wikipedia
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LabVIEW 数据可视化：NI XY Graph 教程
总结
本案例展示了 LabVIEW 通过基本数学运算实现线性回归拟合，适用于数据分析、信号处理等领域。利用 XY Graph 进行数据可视化，提高了直观性。同时支持修正选项，增强了拟合精度，是一个值得学习和借鉴的 LabVIEW 编程案例。