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C5.1:共发射极组态

  共发射极组态就是两个电压源公用端或地端连接到发射极上,这种电路有两个回路,一个是左边的基极回路,右边是集电极回路。

    基极回路里,VBB使发射极正偏,RB为限流电阻,通过改变VBB或RB,可以改变基极电流,而改变基极电流,就意味着将集电极电流改变,即基极电流控制集电极电流,也就是小电流控制大电流。

  集电极回路,电压源VCC通过RC使集电结反偏,VVCC必须使集电结反偏,否则晶体管将不能正常工作,即集电极必须是正电压,这样才能将注入基极的大多数自由电子收集起来。

  基极的回路叫输入回路,集电极回路叫输出回路,在CE连接中,输入回路控制输出回路。

  现在先讲一下命名规则,便于后面的学习。

  双下标就是下标两个字符相同,则表示电压源,下标两个字符不同,则表示两点间电压(VBE和VCE),比如VBB基极电压源,而VBE,则表示B点和E点之间的电压,即基极和发射极之间的电压。

  单下标,意味着标注点和地之间的电压,比如VB,是基极和地之间的电压。

  通过单下标电压相减,可以计算出字符不同的双下标电压,如VCE=VC-VE,由于CE组态下,VE为零,所以VCE = VC,VCB=VC-VB,VBE=VB。

  晶体管最初是贝尔实验室工作的约翰*皮尔斯命名的,这个器件具有与真空管的对偶特性,真空管有跨导特性,新器件有跨阻特性。

  基极特性曲线来看,IB和VBE的特性曲线就是二极管的伏安特性,即可以采用之前学过的二极管的所有方法来讨论,如果采用理想二极管,VBE=0,如果采用二阶近似,则取VBE=0.7V。

  集电极特性来看,改变VBB和VVCC,当IB=10uA,使晶体管产生不同的电压和电流,当通过测量IC和VCE,获得IC与VCE特性曲线的数据。

  

  当VCE为零的时候,集电结不再处于反偏状态,所以这时候集电极电流为零,因为VCE=VC,VC为0,IC自然为零,当VCE开始增加,集电极电流迅速增加,VCE介于0-1V之间的时候,集电极电流增加到1mA,并且几乎恒定不变,当集电结变为反向偏置,到达耗尽层的电子被全部收集,进一步增加VCE并不能增加集电极电流,因为集电极只能收集发射极注入基极中的自由电子,这些注入电子的数目仅依赖基极电路,所以当IC达到1mA,进入了饱和状态,即1V-40V之间为恒定值。

  当VCE大于40V,集电结被击穿,晶体管就失去正常特性,因此晶体管不能正常工作在击穿区,所以手册里会有额定值标就是集电极-发射极击穿电压VCE(max)。

  根据基尔霍夫电压定律,一个回路或闭合路径的电压和等于零,所以集电极电路VCE=VCC-ICRC

  说明VCE等于集电极电源电压减去集电极电阻上的电压。

  功率计算:PD = VCE*IC,晶体管功率是VCE与集电极电流的乘积,集电结的结温升高,功率越大,结温越高,结温到150-200℃,晶体管会烧毁,所以有最大额定功率PD(max)。

  现在讲讲晶体管的工作状态,VCE处于1-40V的中间区域,是晶体管的正常工作区,这个区域发射结正偏,集电结反偏,集电极将发射结注入基极的自由电子几乎全部收集,因此改变集电极电压不影响集电极电流,这个区域叫有源区,这个区域的集电极电流是恒定的。

  另一个区域是击穿区(40V以上),晶体管在这个区域会损坏,所以绝不允许工作在这个区域,齐纳二极管的击穿区特性是优化的,而晶体管是不允许在击穿区工作的。

  最后一个区域是VCE电压起始处上升的阶段(0-1V),斜坡部分称为饱和区,这个区是集电极的正电压不能将注入基极的自由电子全部收集,基极电流IB大于正常值,电流增益βdc则小于正常值。

  最重要的区域就是有源区,有源区才能实现对信号的放大。

  以上是IB=10uA的情况,当IB是不同的电流的时候,特性曲线又是怎样的?

  会发现,当IB的电流改变,IC随之改变,但是曲线的特征没有变化,并且IB和IC的关系是一致的,IC=100*IB,也就是集电极电流是基极电流的一百倍,βdc=IC/IB=100。

  除了测量法外,还能通过特性曲线扫描仪(一种能够显示晶体管IC与VCE特性曲线的测试仪器),而通过扫描仪会发现,随着VCE的增加,曲线会略微上翘,因为VCE增加使基区宽度略微变小的结果(VCE增加时,CB结耗尽层变宽,从而使得基区变窄),基区变窄则参与复合的空穴减少,所以表现集电极电流增加,曲线略微上翘。

  而上图还有IB=0V的时候,这是最不希望存在的曲线,它表示第四个可能的工作区,在这种情况下,集电极还有小电流,上图将这个小电流放大了观看,实际上电流没有这么大,而这个特性曲线的区域叫截止区,小的集电极电流称集电极截止电流。

  而集电极截止电流的存在,是因为集电结有反向少子电流和表面漏电流,设计良好的电路,集电极截止电流很小。

  所以根据以上内容,发现晶体管有四个不同的工作区域:有源区、截止区、饱和区、和击穿区,晶体管工作在有源区时,可用来对弱信号进行放大,因为输入信号的变化使输出信号发生成比例的变化,所以有源区也叫线性区,而在数字电路和计算机电路中晶体管工作在饱和区和截止区,这些电路称为开关电路。

  晶体管近似简单说明,先是便于故障诊断,理想化近似即可满足。

  理想化近似:发射结表示理想二极管,VBE=0,可快速计算出基极电流,得到基极电流就能根据增益得到集电极电流。

  二阶近似:设计正常晶体管所用,VBE=0.7V(对于硅晶体管而言),所以在二阶近似下,基极和集电极电流略小于理想值。

  三阶近似:电流很大的大功率应用,发射结的电阻也计算在内,所以体电阻会让VBE增加,使之大于0.7V,大功率电路中,VBE可能大于1V,同样的,集电极体电阻也会在某些设计中有显著影响,除了这两种高阶效应,还有其他的情况,但是手工计算特别麻烦,所以二阶以上的近似计算通过计算机来完成(比如电路仿真软件)。

  

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