【连接器专题】 EIA-364 系列标准的完整列表
EIA-364 系列标准是针对电子连接器和互连系统的测试标准,由美国电子工业协会(EIA)制定,现在由美国国家标准学会(ANSI)管理。
以下是根据AI工具整理的有关EIA-364系列连接器标准的完整列表(仅供参考):
序号 | 标准号 | 标准名称 | 主要内容 | 环境严酷等级 |
---|---|---|---|---|
1 | EIA-364-01B | 加速老化试验程序 | 模拟温度/湿度长期老化,评估材料劣化(非机械加速度) | G1.2~G3 |
2 | EIA-364-02C | 气密性测试程序 | 检测空气泄漏,评估密封性能 | G2~G3 |
3 | EIA-364-03B | 低气压(高度模拟)测试程序 | 评估高海拔低气压下的性能变化 | G2~G3 |
4 | EIA-364-05B | 端子插拔力测试程序 | 测量端子插入力、释放力及拔出力 | - |
5 | EIA-364-06C | 接触电阻测试程序 | 确保低而稳定的接触电阻(≤50mΩ) | G1.2~G3 |
6 | EIA-364-07B | 端子同心度测试程序 | 评估端子轴向对准精度,防止接触不良 | - |
7 | EIA-364-08B | 卷曲抗拉强度测试程序 | 测试端子与导线卷接连的可靠性 | - |
8 | EIA-364-09C | 耐久性(插拔寿命)测试程序 | 评估多次插拔后的性能变化(通常≥500次) | G1.2~G3 |
9 | EIA-364-10C | 液体浸没测试程序 | 评估密封性和耐腐蚀性 | G3 |
10 | EIA-364-11A | 抗溶剂测试程序 | 检测接触溶剂后的性能变化 | G2 |
11 | EIA-364-13B | 连接器插入/拔出力测试程序 | 测量整机插合和分离力 | - |
12 | EIA-364-14B | 臭氧暴露测试程序 | 评估弹性体在臭氧环境(50-100ppm,150h)下的劣化 | G3 |
13 | EIA-364-17B | 温度寿命测试程序 | 高温环境(+125℃~+175℃)下的长期可靠性评估 | G1.2~G3 |
14 | EIA-364-20C | 耐电压测试程序 | 测量绝缘击穿电压(典型值≥500V AC) | G1.2~G3 |
15 | EIA-364-21C | 绝缘电阻测试程序 | 确保高绝缘电阻(≥1000MΩ) | G1.2~G3 |
16 | EIA-364-22B | 模拟寿命测试程序 | 综合环境模拟(温湿度+振动)下的寿命预测 | G3 |
17 | EIA-364-23B | 低电平接触电阻测试程序 | 超低电阻测量(≤20mΩ),用于信号传输 | G1.2 |
18 | EIA-364-25C | 损坏探测测试程序 | 识别连接器在测试/使用中的物理损伤 | - |
19 | EIA-364-26B | 盐雾腐蚀测试程序 | 评估盐雾环境(5% NaCl,35℃)下的耐腐蚀性 | G3 |
20 | EIA-364-27B | 机械振动(指定脉冲)测试程序 | 模拟特定冲击谱(如车载ECU振动) | G3 |
21 | EIA-364-28D | 振动测试程序 | 宽频振动测试(10~2000Hz,1.52mm振幅) | G3 |
22 | EIA-364-29B | 接触保持力测试程序 | 确保稳定接触压力(≥0.5N) | - |
23 | EIA-364-31B | 湿热循环测试程序 | 评估潮湿环境(40℃,93%RH)下的性能 | G2~G3 |
24 | EIA-364-32C | 热冲击测试程序 | 温度快速变化(-55℃↔+125℃,30min循环)下的可靠性 | G3 |
25 | EIA-364-35B | 连接器保持力测试程序 | 防止插合后意外松脱 | - |
26 | EIA-364-37B | 接触配合/分离力测试程序 | 评估配合精度和分离所需力 | - |
27 | EIA-364-39B | 液压静力测试程序 | 评估高压液体下的密封性能(典型值≥10bar) | G3 |
28 | EIA-364-41C | 弯曲疲劳测试程序 | 评估反复弯曲(≥1000次)后的导线连接可靠性 | G3 |
29 | EIA-364-42B | 冲击测试程序 | 模拟运输或使用中的机械冲击(半正弦波,50g) | G3 |
30 | EIA-364-53B | 硝酸蒸汽测试(金镀层)程序 | 评估金镀层耐化学腐蚀性 | G2 |
31 | EIA-364-56B | 焊接耐热性测试程序 | 确保焊接过程(260℃,10s)中不损坏 | - |
32 | EIA-364-65 | 混合气体腐蚀测试程序 | 工业环境(H₂S,SO₂,Cl₂等)下的加速腐蚀测试 | 新增 |
33 | EIA-364-66A | EMI屏蔽效能测试程序 | 评估30MHz~1GHz频段的电磁干扰屏蔽能力(≥60dB) | G1.2 |
34 | EIA-364-70 | 电流与温升测试程序 | 大电流负载(≥10A)下的温升测量(ΔT≤30℃) | 新增 |
35 | EIA-364-81A | 燃烧特性测试程序 | 评估材料阻燃性(UL94 V-0/V-1等级) | - |
36 | EIA-364-82A | 塑料腐蚀性测试程序 | 检测塑料在腐蚀环境下的析出物影响 | G2~G3 |
37 | EIA-364-83 | 机械冲击(车身/壁障)测试程序 | 电动汽车碰撞工况下的结构完整性评估 | G3 |
38 | EIA-364-90 | 串扰比测试程序 | 评估高频信号(≥1GHz)抗干扰能力 | G1.2 |
39 | EIA-364-91A | 粉尘测试程序 | 验证防尘密封性(IP6X等级) | G3 |
40 | EIA-364-100 | 永久标记耐久性测试程序 | 确保标记在溶剂擦拭/摩擦后仍清晰 | - |
41 | EIA-364-101 | 信号衰减测试程序 | 测量高频传输损耗(≤-3dB@10GHz) | G1.2 |
42 | EIA-364-102 | 信号上升/下降时间测试程序 | 评估高速信号完整性(如USB 3.0, PCIe) | G1.2 |
43 | EIA-364-103 | 传播延迟测试程序 | 测量信号传输延迟(±10%容差) | G1.2 |
44 | EIA-364-104A | 可燃性测试程序 | 评估火源附近阻燃性能(符合IEC 60695) | - |
45 | EIA-364-105 | 低温操作测试程序 | 极端低温(-40℃)下的功能可靠性 | G3 |
46 | EIA-364-106 | 驻波比(SWR)测试程序 | 评估射频匹配性能(SWR≤1.5) | G1.2 |
47 | EIA-364-107 | 眼图与抖动测试程序 | 高速数字信号完整性分析(如25Gbps SerDes) | G1.2 |
48 | EIA-364-108 | 高频参数测量程序 | 时域/频域下阻抗、回波损耗等参数测量 | G1.2 |
49 | EIA-364-109 | 电感测量程序(1nH~10nH) | 超小电感测量(用于高速差分对) | G1.2 |
50 | EIA-364-1000B | 受控环境连接器环境测试方法论 | 整合原1000系列,定义G1.2级环境(医疗/实验室)测试流程 | G1.2 |
51 | EIA-364-1001 | 互换性测试程序 | 确保不同制造商产品兼容性 |
G1.2(受控环境,如数据中心)、G2(一般工业)、G3(严酷环境,如车载/户外)
EIA-364 系列标准在电子工业中具有重要的地位,为电子连接器和互连系统的测试和验证提供了统一的、可操作的流程和方法,有助于提高电子产品的质量和可靠性,促进了电子工业的发展
参考链接:
EIA-364 (连接器产品常用测试规范之目录) - 百度文库
EIA-364-01~114 标准族清单 114份 201503 - 百度文库