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【连接器专题】 EIA-364 系列标准的完整列表

        EIA-364 系列标准是针对电子连接器和互连系统的测试标准,由美国电子工业协会(EIA)制定,现在由美国国家标准学会(ANSI)管理。

        以下是根据AI工具整理的有关EIA-364系列连接器标准的完整列表(仅供参考):

序号标准号标准名称主要内容环境严酷等级
1EIA-364-01B加速老化试验程序模拟温度/湿度长期老化,评估材料劣化(非机械加速度)G1.2~G3
2EIA-364-02C气密性测试程序检测空气泄漏,评估密封性能G2~G3
3EIA-364-03B低气压(高度模拟)测试程序评估高海拔低气压下的性能变化G2~G3
4EIA-364-05B端子插拔力测试程序测量端子插入力、释放力及拔出力-
5EIA-364-06C接触电阻测试程序确保低而稳定的接触电阻(≤50mΩ)G1.2~G3
6EIA-364-07B端子同心度测试程序评估端子轴向对准精度,防止接触不良-
7EIA-364-08B卷曲抗拉强度测试程序测试端子与导线卷接连的可靠性-
8EIA-364-09C耐久性(插拔寿命)测试程序评估多次插拔后的性能变化(通常≥500次)G1.2~G3
9EIA-364-10C液体浸没测试程序评估密封性和耐腐蚀性G3
10EIA-364-11A抗溶剂测试程序检测接触溶剂后的性能变化G2
11EIA-364-13B连接器插入/拔出力测试程序测量整机插合和分离力-
12EIA-364-14B臭氧暴露测试程序评估弹性体在臭氧环境(50-100ppm,150h)下的劣化G3
13EIA-364-17B温度寿命测试程序高温环境(+125℃~+175℃)下的长期可靠性评估G1.2~G3
14EIA-364-20C耐电压测试程序测量绝缘击穿电压(典型值≥500V AC)G1.2~G3
15EIA-364-21C绝缘电阻测试程序确保高绝缘电阻(≥1000MΩ)G1.2~G3
16EIA-364-22B模拟寿命测试程序综合环境模拟(温湿度+振动)下的寿命预测G3
17EIA-364-23B低电平接触电阻测试程序超低电阻测量(≤20mΩ),用于信号传输G1.2
18EIA-364-25C损坏探测测试程序识别连接器在测试/使用中的物理损伤-
19EIA-364-26B盐雾腐蚀测试程序评估盐雾环境(5% NaCl,35℃)下的耐腐蚀性G3
20EIA-364-27B机械振动(指定脉冲)测试程序模拟特定冲击谱(如车载ECU振动)G3
21EIA-364-28D振动测试程序宽频振动测试(10~2000Hz,1.52mm振幅)G3
22EIA-364-29B接触保持力测试程序确保稳定接触压力(≥0.5N)-
23EIA-364-31B湿热循环测试程序评估潮湿环境(40℃,93%RH)下的性能G2~G3
24EIA-364-32C热冲击测试程序温度快速变化(-55℃↔+125℃,30min循环)下的可靠性G3
25EIA-364-35B连接器保持力测试程序防止插合后意外松脱-
26EIA-364-37B接触配合/分离力测试程序评估配合精度和分离所需力-
27EIA-364-39B液压静力测试程序评估高压液体下的密封性能(典型值≥10bar)G3
28EIA-364-41C弯曲疲劳测试程序评估反复弯曲(≥1000次)后的导线连接可靠性G3
29EIA-364-42B冲击测试程序模拟运输或使用中的机械冲击(半正弦波,50g)G3
30EIA-364-53B硝酸蒸汽测试(金镀层)程序评估金镀层耐化学腐蚀性G2
31EIA-364-56B焊接耐热性测试程序确保焊接过程(260℃,10s)中不损坏-
32EIA-364-65混合气体腐蚀测试程序工业环境(H₂S,SO₂,Cl₂等)下的加速腐蚀测试新增
33EIA-364-66AEMI屏蔽效能测试程序评估30MHz~1GHz频段的电磁干扰屏蔽能力(≥60dB)G1.2
34EIA-364-70电流与温升测试程序大电流负载(≥10A)下的温升测量(ΔT≤30℃)新增
35EIA-364-81A燃烧特性测试程序评估材料阻燃性(UL94 V-0/V-1等级)-
36EIA-364-82A塑料腐蚀性测试程序检测塑料在腐蚀环境下的析出物影响G2~G3
37EIA-364-83机械冲击(车身/壁障)测试程序电动汽车碰撞工况下的结构完整性评估G3
38EIA-364-90串扰比测试程序评估高频信号(≥1GHz)抗干扰能力G1.2
39EIA-364-91A粉尘测试程序验证防尘密封性(IP6X等级)G3
40EIA-364-100永久标记耐久性测试程序确保标记在溶剂擦拭/摩擦后仍清晰-
41EIA-364-101信号衰减测试程序测量高频传输损耗(≤-3dB@10GHz)G1.2
42EIA-364-102信号上升/下降时间测试程序评估高速信号完整性(如USB 3.0, PCIe)G1.2
43EIA-364-103传播延迟测试程序测量信号传输延迟(±10%容差)G1.2
44EIA-364-104A可燃性测试程序评估火源附近阻燃性能(符合IEC 60695)-
45EIA-364-105低温操作测试程序极端低温(-40℃)下的功能可靠性G3
46EIA-364-106驻波比(SWR)测试程序评估射频匹配性能(SWR≤1.5)G1.2
47EIA-364-107眼图与抖动测试程序高速数字信号完整性分析(如25Gbps SerDes)G1.2
48EIA-364-108高频参数测量程序时域/频域下阻抗、回波损耗等参数测量G1.2
49EIA-364-109电感测量程序(1nH~10nH)超小电感测量(用于高速差分对)G1.2
50EIA-364-1000B受控环境连接器环境测试方法论整合原1000系列,定义G1.2级环境(医疗/实验室)测试流程G1.2
51EIA-364-1001互换性测试程序确保不同制造商产品兼容性

        G1.2(受控环境,如数据中心)、G2(一般工业)、G3(严酷环境,如车载/户外)

        EIA-364 系列标准在电子工业中具有重要的地位,为电子连接器和互连系统的测试和验证提供了统一的、可操作的流程和方法,有助于提高电子产品的质量和可靠性,促进了电子工业的发展

参考链接:

EIA-364 (连接器产品常用测试规范之目录) - 百度文库

EIA-364-01~114 标准族清单 114份 201503 - 百度文库

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